手机站 
x 射线荧光测试仪，配有多毛细孔 x 射线光学系统，可自动测量和分析微小部件及结构上镀层厚度和成分。 xdv-u镀层厚度测量仪特点 优化的微区分析测试仪器根据x射线光学系统，可以对100 μm或更小的结构进行分析极高的能量强度，从而实现出色的精度即使对于薄镀层，测量的不确定度也有可能做到 < 1 nm只适用于平面的或是接近平面的样品底部c型开槽的大容量测量舱通过快速、可编程的 xy 工作台进行自动测量 xdv-u镀层厚度测量仪典型应用领域 测量印刷线路板、引线框架和芯片上的镀层系统测量细小部件和细电线上的镀层系统分析微小结构和微小部件的材料成分 导购推荐
加工定制 是 类型 镀层测厚仪 品牌 费希尔 型号 xdv-μ 测量范围 1（mm） 显示方式 详 见说明 电源电压 详见 说明（v） 外形尺寸 详见说 明（mm）
费希尔xdv-μ系列x射线荧光测厚仪，进口测厚仪
- 供应商：
- 上海皆准仪器设备有限公司 进入商铺
- 所在分类：
- 报价：
- 电讯
- 型号
- 不限
- 所在地：
- 上海市嘉定区江桥万达10号楼605
- 联系电话：
- 186****6232
- 手机：
- 131****8811
- 在线咨询：
-
- 联系人：
- 屈*姐
- 在线下单：
- 我要下单
详细介绍
上海皆准仪器设备有限公司其他商品
京公网安备11010802030469号